Atom-Probe Field Ion Microscopy

Tien T. Tsong


okładka miękka

towar niedostępny

Książka zostanie wydrukowana na zamówienie klienta


Do przechowalni

Opis produktu

Atom-Probe Field Ion Microscopy - Tien T. Tsong


The book will be of interest to scientists working on surfaces and interfaces of materials at the atomic level and will provide a useful reference for those using this technique.

Szczegóły

Atom-Probe Field Ion Microscopy

Tien T. Tsong


wrzesień 2005
Bertrams Print On Demand
0521019931
9780521019934
156 x 230 mm

Recenzje

Napisz własną recenzję
Atom-Probe Field Ion Microscopy - Tien T. Tsong

Historia przeglądania